Advantest Semicon Sud-Est Asiatico

Advantest protagonista a Semicon Sud-Est Asiatico

Advantest presenta le sue ultime soluzioni di test al Semicon Southeast Asia 2025 presso il Sands Expo and Convention Centre di Singapore.
Ispezione automatizzata a raggi X Saki

Ispezione automatizzata a raggi X: Saki alza la qualità

Saki potenzia il sistema 3Xi-M200 con nuove funzioni software per l'ispezione automatizzata a raggi X, migliorando precisione e nitidezza.
analizzatori di spettro Aronia

Analizzatori di spettro portatili per misure in loco

Con Spectran V6 Mobile, Aaronia lancia una serie di analizzatori di spettro portatili in tempo reale che consentono misure precise e affidabili sul posto.
EtherCAT benefici

Affidabile ed efficiente: la tecnologia EtherCAT da vicino

EtherCAT è uno dei protocolli Ethernet più utilizzati al mondo per un'ampia gamma di applicazioni nell’automazione industriale.
Advantest MUX potenza

Advantest annuncia il nuovo MUX di potenza PMUX02

Progettato per la piattaforma di test V93000 EXA Scale, il nuovo multiplexer di potenza ottimizza il test dei dispositivi ad alta corrente.
Raggi X

Controllo a raggi X a supporto della qualità

La tecnologia di ispezione a raggi X è utilizzata nel processo di assemblaggio dei PCBA per testare tutto quanto non è visibile, è uno dei passaggi più importanti per gli assemblatori orientati alla qualità
Fig. 1 – La piattaforma a sonde mobili Pilot VX HR XL per il collaudo delle probe card, un sistema, chiavi in mano, in grado di offrire una soluzione completa

L’innovazione nel test di probe card

La probe card è essenzialmente un'interfaccia elettromeccanica che fornisce il contatto elettrico tra il dispositivo in prova (il wafer semiconduttore) e l'elettronica del sistema di test
Ispezione a raggi X Omron

Ispezione a raggi X nel segno di IA e deep learning

Progettato per ambienti a camera bianca, Omron lancia il sistema automatizzato di ispezione a raggi X VT-X950 3D-AXI per la produzione di semiconduttori.
Test card

Probe card hi-tech

Nel regno della produzione dei semiconduttori, dove precisione e affidabilità sono fondamentali, un componente critico che svolge un ruolo indispensabile è la probe card
Flying probe Seica

Flying probe: oltre il test elettrico

l test flying probe, a differenza dei tradizionali percorsi di test ICT, che utilizzano fixture, è una soluzione flessibile, che consente di testare tipi diversi di schede semplicemente riprogrammando il sistema.
Flying probe scorpion

Sistemi di test flying probe in continua evoluzione

Il flying probe Scorpion ha adottato le soluzioni di azionamento della gamma standard fornita dagli specialisti di micromotori Faulhaber.
testing

In-circuit testing e functional testing a confronto

L''In-Circuit Testing e il Functional Testing sono due metodi di test comunemente utilizzati per le PCBA e il test delle net list per le bare board.

Selezione di elettronica

PCB Magazine

css.php