Test & Ispezione

Microtest acquisisce ipTEST

Il Gruppo Microtest acquisisce ipTest

Microtest ora supera gli 80 milioni di fatturato e le 400 persone in organico confermando la propria forza nei sistemi di test e nel testing di microchip.
Delvitech Eurotech controllo qualità

Delvitech ed Eurotech partner per il controllo di qualità

Per il controllo delle schede la collaborazione tra Delvitech ed Eurotech punta sull'ispezione ottica automatizzata guidata dall'IA.
Seica Battery Show

Seica protagonista al Battery show di Stoccarda

In mostra al Battery Show di Stoccarda il sistema Pilot BT e il tester MINI200-ACIR di Seica indirizzate al settore dei veicoli elettrici.
Advantest IA e HPC

Advantest, nuovo alimentatore per test di IA e HPC

Il nuovo alimentatore DC Scale XHC32 a 32 canali è stato sviluppato per ottimizzare i test di AI, HPC e altri dispositivi ad alta corrente.
Advantest test SoC

Advantest rafforza il sistema di test SoC V93000

Presentato il nuovo alimentatore a 32 canali sviluppato per ottimizzare il test di dispositivi AI, HPC e altri dispositivi ad alta corrente.
Spea in Tailandia. Il presidente e fondatore, Luciano Bonaria

Nuova filiale tailandese per SPEA

SPEA annuncia l'apertura di una nuova filiale in Tailandia. La sede di Bangkok rappresenta un passo significativo nell'espansione globale dell'azienda italiana.
VJ Electronix Apogee 130

Ispezione a raggi X: VJ Electronix presenta Apogee 130

Con il lancio di Apogee 130 VJ Electronix presenta una soluzione di ispezione a raggi X conveniente e con prestazioni superiori.
jitter

Jitter: errori di temporizzazione indesiderati 

Il jitter è la presenza, in un segnale, di errori di temporizzazione indesiderati, con cambiamenti dei fronti che avvengono o un po’ prima o un po’ dopo rispetto a quanto previsto.
Kimchuk collaudo

Kimchuk eleva le capacità di collaudo con Seica

Seica ha annunciato che Kimchuk ha investito nel tester a sonde volanti PILOT V8 NEXT per rafforzare ulteriormente le sue capacità.
flying probe

Collaudo flying probe: lo stato dell’arte

Grazie a significativi sviluppi tecnologici, i più avanzati sistemi di test a sonde mobili (flying probe) hanno raggiunto delle prestazioni meccaniche incredibili
Nuove frontiere test

Advantest, le nuove frontiere della tecnologia dei test

Advantest presenterà le sue ultime soluzioni di test al Semicon China 2024 il 20-22 marzo presso il Shanghai New International Exhibit Center.
Viscom pcb inspection

AOI: il nuovo sistema Viscom iS6059

Il sistema Viscom iS6059 Pcb Inspection distribuito da Pcb Technologies è estremamente rapido e preciso nella produzione di grandi volumi.

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