Hi-tech per il test dei semiconduttori
Il ritmo di sviluppo dei semiconduttori e i test degli stessi stanno accelerando grazie alla velocità con cui sbocciano le innovazioni tecnologiche
Unità di acquisizione dati ad alta velocità SL2000
L'SL2000 di Yokogawa è un sistema di acquisizione dati ad alte prestazioni ideale per i settori automobilistico, meccatronico ed elettronico di potenza
Ispezione ottica 3D per paste di sinterizzazione
L’ispezione ottica delle paste di sinterizzazione è essenziale per garantire l’affidabilità nell’elettronica di potenza. Lo sa bene GÖPEL electronic.
Tester per dispositivi resistenti ad alti livelli di radiazioni
Microtest presenta M2 DS5 Quasar, generatore di test per test dinamici a bassa induttanza fino a 2kA per la produzione di semiconduttori in grandi volumi.
Advantest protagonista a Semicon Sud-Est Asiatico
Advantest presenta le sue ultime soluzioni di test al Semicon Southeast Asia 2025 presso il Sands Expo and Convention Centre di Singapore.
Ispezione automatizzata a raggi X: Saki alza la qualità
Saki potenzia il sistema 3Xi-M200 con nuove funzioni software per l'ispezione automatizzata a raggi X, migliorando precisione e nitidezza.
Analizzatori di spettro portatili per misure in loco
Con Spectran V6 Mobile, Aaronia lancia una serie di analizzatori di spettro portatili in tempo reale che consentono misure precise e affidabili sul posto.
Affidabile ed efficiente: la tecnologia EtherCAT da vicino
EtherCAT è uno dei protocolli Ethernet più utilizzati al mondo per un'ampia gamma di applicazioni nell’automazione industriale.
Advantest annuncia il nuovo MUX di potenza PMUX02
Progettato per la piattaforma di test V93000 EXA Scale, il nuovo multiplexer di potenza ottimizza il test dei dispositivi ad alta corrente.
Controllo a raggi X a supporto della qualità
La tecnologia di ispezione a raggi X è utilizzata nel processo di assemblaggio dei PCBA per testare tutto quanto non è visibile, è uno dei passaggi più importanti per gli assemblatori orientati alla qualità
L’innovazione nel test di probe card
La probe card è essenzialmente un'interfaccia elettromeccanica che fornisce il contatto elettrico tra il dispositivo in prova (il wafer semiconduttore) e l'elettronica del sistema di test
Ispezione a raggi X nel segno di IA e deep learning
Progettato per ambienti a camera bianca, Omron lancia il sistema automatizzato di ispezione a raggi X VT-X950 3D-AXI per la produzione di semiconduttori.
