Collaudo parallelo di femtocelle 5G
Rohde & Schwarz e LITEON collaborano nel collaudo parallelo di femtocelle 5G con il PVT360A, +50% di throughput produttivo
TSA: per la progettazione di sistemi di test automatizzati
Pickering lancia un'architettura per sistemi di test volta a semplificare la progettazione e l’implementazione del percorso del segnale.
L’uso dell’AI nei test RF
L'intelligenza artificiale (AI) è essenziale per consentire test a RF (radiofrequenza) efficienti e accessibili su dispositivi wireless avanzati e su reti dinamiche e automatizzate
Progettare la linea SMT
Test elettrico: la capacità di testare, convalidare e certificare i sistemi elettronici, in modo tempestivo e continuativo, definisce non solo il rispetto delle normative, ma anche il successo del prodotto
L’ABC dell’AI nei test dei semiconduttori
Il framework ABC di Advantest — Algorithms, Big Data e Computation & Control — definisce l’infrastruttura necessaria a portare l’intelligenza artificiale nel cuore del test di produzione
Pogo pin e test probe
I pogo pin sono connettori ultraminiaturizzati che trasportano segnali di alimentazione o dati ai dispositivi elettronici, senza alcuna perdita di contatto
Letti d’aghi per test elettrico
Una fixture di test è un dispositivo realizzato su specifica di ogni PCBA e fornisce connessioni elettriche tra la scheda e il tester ICT.
Advantest T2000 AiR2X, il test analogico raddoppia le risorse
Costi operativi e impatto energetico ridotti. Advantest presenta il nuovo T2000 AiR2X, sistema di test analogico per SoC raffreddato ad aria.
Advantest e Tokyo Seimitsu: sviluppo congiunto di un prober a livello...
Advantest Corporation e Tokyo Seimitsu Co., Ltd. hanno presentato i piani per il co-sviluppo di un nuovo prober a livello di die
Advantest presenta la piattaforma di test MTe
Modulare, scalabile e sostenibile. Advantest presenta MTe, piattaforma di test unificata per dispositivi semiconduttori di potenza.
Sistema di visione FH con funzionalità IA avanzate
OMRON ha annunciato un importante aggiornamento del sistema di visione FH, che riduce setting superflui e assicura risultati rapidi e riproducibili, anche su superfici strutturate, riflettenti o variabili.
Microtest semplifica il test di semiconduttori WBG
Lanciati Quasar200 e Pulsar600 per la ricerca sui semiconduttori WBG e lo sviluppo di nuovi prodotti, in particolare nell’industria automobilistica.
