Advantest T2000 AiR2X, il test analogico raddoppia le risorse
Costi operativi e impatto energetico ridotti. Advantest presenta il nuovo T2000 AiR2X, sistema di test analogico per SoC raffreddato ad aria.
Advantest e Tokyo Seimitsu: sviluppo congiunto di un prober a livello...
Advantest Corporation e Tokyo Seimitsu Co., Ltd. hanno presentato i piani per il co-sviluppo di un nuovo prober a livello di die
Advantest presenta la piattaforma di test MTe
Modulare, scalabile e sostenibile. Advantest presenta MTe, piattaforma di test unificata per dispositivi semiconduttori di potenza.
Sistema di visione FH con funzionalità IA avanzate
OMRON ha annunciato un importante aggiornamento del sistema di visione FH, che riduce setting superflui e assicura risultati rapidi e riproducibili, anche su superfici strutturate, riflettenti o variabili.
Microtest semplifica il test di semiconduttori WBG
Lanciati Quasar200 e Pulsar600 per la ricerca sui semiconduttori WBG e lo sviluppo di nuovi prodotti, in particolare nell’industria automobilistica.
Test semiconduttori: Advantest inaugura nuova era
La collaborazione con Nvidia segna un punto di svolta nei test dei semiconduttori grazie al machine learning e all’elaborazione in tempo reale.
Advantest, pronta la piattaforma 7038 Single Test Rack
Il nuovo sistema con raffreddamento a liquido offre test SLT e burn-in economici e ad alta densità per dispositivi HPC, AI e automobilistici.
Multimetro ESD per controlli accurati
Il multimetro ESD EPA SafeAssure di Sparktrap incontra le esigenze di un settore, come quello della produzione elettronica, che richiede un monitoraggio attento e costante
Hi-tech per il test dei semiconduttori
Il ritmo di sviluppo dei semiconduttori e i test degli stessi stanno accelerando grazie alla velocità con cui sbocciano le innovazioni tecnologiche
Unità di acquisizione dati ad alta velocità SL2000
L'SL2000 di Yokogawa è un sistema di acquisizione dati ad alte prestazioni ideale per i settori automobilistico, meccatronico ed elettronico di potenza
Ispezione ottica 3D per paste di sinterizzazione
L’ispezione ottica delle paste di sinterizzazione è essenziale per garantire l’affidabilità nell’elettronica di potenza. Lo sa bene GÖPEL electronic.
Tester per dispositivi resistenti ad alti livelli di radiazioni
Microtest presenta M2 DS5 Quasar, generatore di test per test dinamici a bassa induttanza fino a 2kA per la produzione di semiconduttori in grandi volumi.
