Advantest ha annunciato la nuova aggiunta al suo portafoglio di alimentatori per la piattaforma di test SoC EXA Scale V93000. L'alimentatore DC Scale XHC32 offre 32 canali con una corrente totale senza precedenti per singolo strumento fino a 640A, consentendo alla scheda di affrontare in modo efficiente i requisiti di alimentazione in rapido aumento per gli acceleratori di intelligenza artificiale (AI), i chip HPC (High Performance Computing), le unità di elaborazione grafica (GPU) e altri dispositivi ad alta corrente come gli switch di rete e i processori applicativi di fascia alta.
I requisiti di corrente molto elevati, pari o superiori a 1000A con tensioni del nucleo inferiori a 1V, richiedono un sistema ATE con capacità di erogazione di potenza precise. Il DC Scale XHC32 estende ulteriormente la piattaforma EXA Scale V93000, coprendo tutti i requisiti di alta potenza con un'unica scheda che consente di combinare in modo illimitato e flessibile i canali, di rispondere rapidamente al load step e al clamp e di estendere le capacità di profilazione.
"I nostri clienti chiedono sempre più soluzioni in grado di eseguire test paralleli multisito di dispositivi 2,5/3D con requisiti di corrente estremamente elevati", ha dichiarato Ralf Stoffels, direttore generale e vicepresidente esecutivo dell'unità di prodotto V93000 di Advantest. "Con la sua erogazione senza precedenti di 640A da una singola scheda e le sue esclusive funzionalità di sicurezza per una protezione delle apparecchiature senza pari, il DC Scale XHC32 è un'ottima soluzione per testare tutti i tipi di dispositivi digitali con requisiti di potenza elevati."
La DC Scale XHC32 offre la piena compatibilità applicativa con la scheda DC Scale UHC4T esistente, consentendo una transizione senza soluzione di continuità alla nuova generazione di alimentatori ad alta potenza e riutilizzando in modo efficiente le schede dei dispositivi sotto test (DUT) esistenti. Grazie all'uso della nuova protezione brevettata dei contatti, la scheda DC Scale XHC32 riduce il costo del test (CoT) eliminando il rischio di danneggiare le schede sonda e le prese di test.
Questa nuova caratteristica non solo consentirà ai clienti di testare applicazioni AI e HPC ad alta corrente in tutta sicurezza, ma proteggerà anche l'investimento complessivo nelle apparecchiature di test. Il nuovo alimentatore ad alta densità consente ai clienti di ottimizzare l'investimento utilizzando infrastrutture di test più piccole o di aumentare i test multisito e ridurre il CoT complessivo.
