Teledyne LeCroy presenta il suo analizzatore di interconnessione ad alta velocità WavePulser 40iX, ideale per i progettisti di hardware ad alta velocità e per gli ingegneri di test per caratterizzare e analizzare le interconnessioni e i cavi per protocolli seriali ad alta velocità come PCI Express, HDMI, USB, SAS, SATA, Fibre Channel, InfiniBand, Gigabit Ethernet e Automotive Ethernet.
Finora, i test per le interconnessioni sono stati separati tra misure nel dominio del tempo e nel dominio della frequenza. Per le prime, gli ingegneri specializzati in “signal integrity” hanno utilizzato il TDR per misurare la risposta al gradino/impulso generando il profilo della impedenza. I TDR sono caratterizzati da un'alta risoluzione spaziale, che consente di localizzare con precisione le anomalie lungo la linea di trasmissione, evidenziate dai cambiamenti nel profilo di impedenza. Per le seconde, i VNA, caratterizzati da un'elevato range della dinamica, sono tipicamente utilizzati dagli ingegneri delle microonde per misurare i parametri-S a Radio Frequenza. Quando utilizzati per testare le interconnessione ad alta velocità, i VNA soffrono del fatto di non misurare fino alla DC e quindi di non disporre di analisi efficaci per la simulazione nel dominio del tempo, quali il il time gating e l'analisi del jitter. Nessuno dei due strumenti di test soddisfa pienamente le esigenze dei progettisti che misurano e validano le interconnessioni ad alta velocità.
Il WavePulser 40iX semplifica notevolmente il processo di test e convalida delle interconnessioni ad alta velocità unendo le misure nel dominio del tempo a quelle nel dominio della frequenza. Il WavePulser 40iX, in una singola acquisizione e come unico strumento, esegue la caratterizzazione completa nel dominio della frequenza misurando i parametri-S come farebbe un analizzatore di rete vettoriale (VNA), il profilo di impedenza come farebbe un riflettometro di dominio del tempo (TDR) e in aggiunta ha la capacità di fare analisi aggiungive. Veloce nella calibrazione poiché automatico e facile da usare, il WavePulser 40iX rivela in dettaglio il percorso del segnale fisico, caratterizzando accuratamente cavi, canale trasmissivo, connettori, vias, backplane, linea su circuito stampati, chip, SoC e altro ancora. I parametri S misurati possono anche essere utilizzati per ulteriori analisi, tra cui il time gating, de-embedding, i diagrammi ad occhio, i valori ottimali per la equalizzazione al ricevitore, la simulazione del flusso dei dati seriali e l'analisi avanzata di jitter con la capacitata’ di misurare tutte le sue componenti.
