Selezione di Elettronica – Marzo 2009

SOMMARIO –

È disponibile l’ultimo numero di Selezione di Elettronica

prima pagina Chi si ferma è perduto
Pierantonio Palerma   
mercati aziende & finanze   
Laura Reggiani   
novità flash dall'elettronica   
Laura Reggiani   
agenda fiere & convegni

la parola a…Maximilian Huber   
Nuove tecnologie per nuove applicazioni
Laura Reggiani
   
attualità
ambiente    Illuminazione: questioni ambientali e legislative
Stefano Noseda   
tendenze    Nuovi scenari per la produzione europea
Laura Reggiani
progettazione    Tendenze e sfide dall'Eda
Roberto Frazzoli
aziende    Idee illuminate
Riccardo Busetto

Focus avionica & aerospazio   
Nuove architetture sempre più modulari e integrate
Mariano Severi
Lo standard FlexRay nel settore aerospaziale
Mariano Severi
Tecnologia analogica ad alte prestazioni per ambienti estremi
Paul Mc Cormack
L'approccio Mils alla sicurezza multilivello
Robert E. Hoffman
Certificazione DO-178B e strumenti Cots
M. Hawthornthwaite e L. Marcil

in vetrina
Future Electronics Una scheda per il confronto diretto
di Mcu a 32 bit
Laura Reggiani
Numonyx Tecnologia avanzata
e alta densità nelle Flash
Laura Reggiani
Xmos Un nuovo processore sfida gli Fpga
Roberto Frazzoli
Cadence Un sistema Eda per chip a 32 nm
Roberto Frazzoli
Phoenix Contact Connessioni per circuito stampato
in applicazioni di potenza
Laura Reggiani
Tektronix In un unico strumento oscilloscopio
e analizzatore di spettro
Rossana Calvi

Report logiche programmabili   
Applicazioni in evoluzione per gli Fpga
Roberto Frazzoli
Nel low power vince l'Fpga   
Wendy Lockhart
Il vantaggio competitivo della riconfigurabilità
Tom VanCourt
Più flessibilità con l'Fpga
Peter Bishop
Soluzioni logiche programmabili Pci Express
Sidharta Mohanty
Quando la guida è assistita dall'Fpga
Autori vari

approfondimenti
cover story Misurazioni semplici anche con problemi di rumore
Trevor Smith
sensori Cmos con otturatore globale
Guy Meynants
comunicazione Controllare i flussi dati con Serial RapidIO 2.0
D. MacAdam e R. Bishop
Mems Tool per il design e il layout dei Mems
Amish Dasei

T&M acquisizione dati
Integrare le misure wireless
con sistemi di acquisizione dati cablati
National Instruments
Utilizzare gli strumenti Lxi per l'acquisizione de dati
Sheri DeTomasi
Una soluzione di collaudo
per il monitoraggio del processo litografico
Jonathan Tucker

Pubblica i tuoi commenti