Advantest ha presentato la nuova piattaforma di collaudo per dispositivi di potenza a semiconduttore: MTe. L’architettura di MTe ridefinisce l’efficienza e la scalabilità del collaudo, rispondendo alle esigenze del mercato dei semiconduttori di potenza.
La crescente domanda di elettrificazione nei settori automotive, industriale, energie rinnovabili, telecomunicazioni e “high performance computing (HPC)” impone ai produttori di dispositivi prestazioni sempre più elevate e una riduzione dei costi di produzione, incluso il costo del test. La piattaforma MTe risponde a queste esigenze combinando un’architettura hardware modulare, una scalabilità di sistema e misure rapide e precise.
«Offriamo ai nostri clienti una soluzione unificata che evolve insieme alle esigenze produttive, consentendo una transizione fluida dalla R&D alla produzione in volumi, garantendo prestazioni e affidabilità di alto livello», ha dichiarato Fabio Marino, amministratore delegato di Crea, società del gruppo Advantest.
MTe offre una significativa riduzione dell’ingombro e una distribuzione ottimizzata delle risorse, senza compromettere le prestazioni — un fattore chiave per attrarre i principali attori IDM e OSAT. La piattaforma MTe è in grado di affrontare le sfide di test imposte dalle nuove generazioni di semiconduttori a banda larga (per esempio SiC e GaN), nonché l’integrazione di core IP digitali nei dispositivi di potenza (per esempio IPM e IPD), includendo schede di acquisizione a larga banda e alte prestazioni, controllo dei driver di gate ai massimi livelli, test dinamici (e di cortocircuito) fino a 10kA e stimoli digitali ad alta tensione.
In linea con la tradizione di Advantest nel fornire piattaforme di test scalabili, l’architettura di calcolo distribuito di MTe garantisce un’efficienza significativa nel collaudo parallelo e un throughput ottimizzato. La piattaforma MTe è ora disponibile a livello globale. Le prime valutazioni da parte di clienti nei settori automobilistico e industriale hanno confermato i vantaggi di MTe in termini di produttività rispetto ai tester tradizionali.
