Il collaudo con una marcia in più

SPEA è l’azienda italiana che più di ogni altra rappresenta l’innovazione nel campo dei sistemi per il collaudo. L’azienda compie oggi 35 anni, e il suo successo è frutto di un mix di esperienza e competenza, continuo investimento in ricerca, e un’intuizione strategica che la differenzia da qualunque altro attore presente sul mercato degli ATE. SPEA è infatti l’unico produttore di sistemi di test la cui offerta abbraccia tutte le fasi del collaudo lungo la filiera elettronica: dal test del wafer di silicio, a quello del microchip, fino al pcb assemblato e al modulo elettronico finito. L’ampiezza del portfolio SPEA esprime così una visione del test omogenea che consente all’azienda di avere una conoscenza profonda e completa dei prodotti da collaudare. Condizione unica per creare le apparecchiature più adatte – in termini di performance, efficacia, convenienza – per il collaudo di produzione dei dispositivi elettronici.

Sempre al passo con la tecnologia
Le esperienze acquisite nel campo del test dei microchip rappresentano un vero e proprio Dna per lo sviluppo dei sistemi di collaudo per le schede elettroniche, che altro non sono che dispositivi complessi formati da una moltitudine di funzioni. I componenti appunto, di cui SPEA già conosce caratteristiche, funzionalità, requisiti e metodi di test.
La frontiera della tecnologia dei microchip è già disponibile in SPEA con ampio anticipo rispetto alla sua applicazione nel prodotto elettronico finito. Infatti, nello sviluppo dei sistemi di test per semiconduttori SPEA collabora con il cliente sin dalla fase di R&D del prodotto, perché molto spesso il prodotto da testare deve ancora essere sviluppato ed esiste solo sulla carta. Questo rende possibile per SPEA predisporre le necessarie evoluzioni dei propri sistemi con la capacità di sbirciare il futuro. Un vantaggio che si sta rivelando strategico, conferendo la capacità di essere sempre al passo con l’evoluzione incalzante di tecnica e tecnologia, che pone di fronte a chi sviluppa sistemi di test sempre nuovi elementi da scoprire e considerare.

Più convenienza, su tutta la linea
Oltre che nell’approfondito know-how, l’esperienza nel campo del collaudo di componenti a semiconduttore si riflette per SPEA in vantaggi tecnologici nel progetto delle macchine. Il filo conduttore è quello di offrire sempre il massimo della tecnica ai minori costi, per tutti i segmenti di prezzo e prestazioni: dalle macchine entry level a quelle della fascia più alta della gamma. L’idea di un’architettura comune offre, infatti, oltre al vantaggio di minori costi nello sviluppo (e nel prezzo) del prodotto, anche la possibilità, per i sistemi a basso costo, di usufruire dello stesso software e della stessa strumentazione dei sistemi di segmenti superiori.
Per esempio, il fatto che nell’ambito semiconductor gli alti volumi e le pressioni per abbassare il prezzo dei prodotti siano ancora più pressanti che nella produzione degli assemblati, ha portato SPEA a studiare soluzioni per l’alto parallelismo e la riduzione dei costi di collaudo che sono poi mutuate dai sistemi per il test di schede, a tutto vantaggio del cliente. La famiglia di tester a letto d’aghi 3030, ad esempio, si basa su un’architettura Multi-Core che consente di ospitare su un unico corpo macchina le prestazioni di più tester, moltiplicando immediatamente produttività e capacità diagnostiche della strumentazione multifunzione. I sistemi 3030 sono gli unici a effettuare il collaudo su più schede realmente in parallelo, grazie all’intelligenza distribuita, con memorie dedicate e cpu multiple e indipendenti, il cui funzionamento è autonomo rispetto al pc che controlla il sistema. Al pari dei sistemi a letto d’aghi, anche la nuova generazione di tester a sonde mobili SPEA è frutto di un salto tecnologico senza precedenti, che ha interessato la meccanica di movimentazione (la più veloce e accurata sul mercato), gli algoritmi di test (capaci di far risparmiare fino al 70% del tempo di test rispetto alla generazione precedente), le prestazioni della strumentazione di misura (capace di discriminare grandezze dell’ordine di 0,1 pF con assoluta stabilità).

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