La domanda di sistemi di test compatti ed efficienti continua a crescere, spinta dal fine vita dei tester legacy e dalla necessità di gestire produzioni sempre più frammentate. In questo contesto si inserisce il T2000 AiR2X, nuova evoluzione della piattaforma T2000 di Advantest.
Raffreddato ad aria e con requisiti energetici contenuti, il sistema è pienamente compatibile con il T2000 convenzionale e offre il doppio delle risorse di test rispetto al precedente T2000 AiR. Un passaggio chiave per chi deve sostituire piattaforme storiche come le serie T6500 e T7700 senza interrompere i flussi produttivi.
Secondo Advantest, il T2000 AiR2X risponde a un mercato ancora molto ampio di tester SoC raffreddati ad aria installati nel mondo. L’obiettivo è garantire continuità operativa, ma anche maggiore efficienza per applicazioni industriali, consumer e automotive, dove flessibilità e contenimento dei costi restano fattori decisivi.
Più flessibilità, meno tempi di test
Dal punto di vista tecnico, il T2000 AiR2X supporta fino a 12 moduli di misurazione. Copre test funzionali e SCAN, misure DC ad alta precisione e test DC per dispositivi automotive fino a 320 V. Un elemento distintivo è il controller multisito, che consente di ridurre in modo significativo i tempi di test nella produzione in serie, migliorando la produttività complessiva.
Il sistema integra la scheda di prestazioni T2000 RECT550 e adotta lo stesso ambiente di programmazione dell’intera famiglia T2000. Questo approccio unificato, insieme al Rapid Development Kit, riduce lo sforzo necessario per sviluppare e fare debug dei programmi di test, accelerando la migrazione dai sistemi esistenti. Le prime valutazioni confermano un’ampia copertura applicativa, dalle MCU industriali agli ASIC consumer, fino ai circuiti per il monitoraggio delle batterie in ambito automotive e mobile.
Il T2000 AiR2X sarà disponibile sul mercato completando l’offerta Advantest accanto ai sistemi V93000 per SoC avanzati ad alta complessità.
