Soluzioni per testare l’Internet of Things

I prodotti e i sistemi elettronici sono soggetti a un’ampia gamma e tipologia di test che implicano misure di natura fisica (ispezione), di natura funzionale (simulazione) e di natura applicativa. Per l’esecuzione di questi test vengono utilizzati vecchi e nuovi strumenti di misura e test, come gli oscilloscopi, gli analizzatori logici, i simulatori basati su computer e i sistemi basati sul deep-learning.

Il concetto del tester

L’innovazione del Test & Measurement si concentra prevalentemente sulla strumentazione e la metodologia di test. In particolare l’innovazione più significativa relativa alla strumentazione di test e misura è la strumentazione portatile basata sul concetto del tester. Una serie di strumenti di test e misura per i sistemi di comunicazione basata sul concetto di tester è la serie RXT di VeEX. Questi sono strumenti portatili, come i tester, con un approccio modulare. La modularità nei tester portatili è ormai uno standard che i produttori di strumenti di misura e test hanno adottato per affrontare la crescente complessità dei sistemi oggetto di testing e la conseguente rapida obsolescenza degli strumenti di misura e test di concezione tradizionale. L’RXT-1200 di VeEX è una piattaforma di test modulare che consente di affrontare in maniera flessibile la gestione delle tecnologie multiple che caratterizzano i servizi di ultima generazione. I moduli di cui dispone sono molteplici e coprono le svariate tecnologie di accesso (rame e fibra) Metro, Transport e Core. L’unità principale opera come un tester la cui funzionalità di misura viene determinate dal modulo che ospita, quindi è un host computer che fornisce le risorse necessarie alle attività di misura (visualizzazione, memoria, elaborazione, ecc. ) configurandosi di volta in volta con il modulo specializzato per la specifica misura e test da effettuare sul campo.

Il collaudo dei dispositivi IoT

Internet of Things sta diventando la più importante realtà tecnologica ed economica cui saranno destinati miliardi di sistemi interconnessi finalizzati a molteplici realtà applicative come quella industriale (Industrial Internet of Things) e medicale (Internet of Medical Things). L’IoT è dunque una tecnologia che, per la sua pervasività, è particolarmente sensibile alle problematiche tipiche delle applicazioni elettroniche, come l’affidabilità, la durata, la compliance con le specifiche funzionali, ecc., per cui il test e la misura assumono un’importanza crescente. La natura comunicativa della tecnologia IoT, tendenzialmente Rf, implica una caratterizzazione orientata alle misure e test nel dominio delle radiofrequenze e dei segnali in generale. Oscilloscopi, generatori di segnali, analizzatori di spettro frequenziale, misuratori di potenza, sono le apparecchiature di test e misura che avranno un ruolo fondamentale in un contesto applicativo come IoT ove tutto è connesso con tutto. Un altro contesto conseguente dall’IoT cui la tecnologia di test e misura sarà sensibile è quello della sicurezza o cybersecurity. In questo caso le apparecchiature tradizionali di test e misura non risulteranno adeguate e una nuova classe di apparecchiature di test e misura dovranno essere sviluppate per affrontare le problematiche crescenti di sicurezza in un contesto applicativo altamente pervasivo come IoT. Infine il segmento del T&M sarà sollecitato dalle esigenze di manutenzione e istallazione delle applicazioni IoT. Anche in questo caso l’innovazione implica la realizzazione di strumenti con caratteristiche adeguate, come per esempio quello dalla portabilità. L’oscilloscopio portatile Scope Rider di Rohde & Schwarz combina la funzionalità e le prestazioni di un oscilloscopio, con le caratteristiche di forma e resistenza di uno strumento palmare (alimentato a batteria), oltre alle funzioni di un analizzatore di stati logici per il debug dei sistemi embedded di ultima generazione. Lo strumento dispone di una banda base di 60 MHz (espandibile fino a 500 MHz) e capacità di campionamento di 5 Gsample/s. Le specifiche di misura come i 2 mV/div consentono di ottenere la compensazione dell’offset fino a 200 V, fondamentale nel test dei moduli di elettronica di potenza, mentre l’elevata frequenza di campionamento consente di catturare e identificare eventi di guasto rari (per esempio interferenze sporadiche sul segnale di clock) senza ricorrere alla sincronizzazione tramite triggering.

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