PXI Smu per il test di semiconduttori

National Instruments ha annunciato il nuovo PXIe-4163 Smu (Source Measure Unit) con numero di canali sei volte superiore rispetto ai PXI Smu di precedente generazione per il test RF, Mems, a segnali misti e di altri componenti a semiconduttore analogici. I produttori di chip hanno progressivamente adottato Sts (Semiconductor Test System) per i vantaggi offerti dalle prestazioni, dalle dimensioni compatte e per ridurre notevolmente i costi di produzione. Il nuovo PXIe-4163 Smu estende ulteriormente queste funzionalità con un elevato numero di canali Dc offrendo un parallelismo superiore per applicazioni multisite e misure di qualità ad elevata accuratezza in un fattore di forma production-ready. Utilizzando in combinazione Sts e il nuovo PXI Smu, gli ingegneri che lavorano in produzione avranno accesso alla stessa piattaforma utilizzata in validazione, riducendo la complessità della correlazione dei valori misurati e anche il time-to-market.

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