Tester compatto T2000 per collaudo a basso costo di circuiti SoC

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Sistemi di test

Advantest presenta il sistema di test compatto T2000 GS e il nuovo modulo per test digitale a SEMICON Japan

Riccardo Busetto - PCB Magazine

07 Dicembre 2007

Advantest (Europe) GmbH ha ha presentato la sua nuova soluzione di test ideata per ridurre il costo dei test dei circuiti SoC normalmente utilizzati nei prodotti digitali del mercato consumer e nell’elettronica automobilistica. Questa nuova soluzione ha debuttato in questi giorni in occasione di SEMICON Japan, dal 5 al 7 dicembre, presso il Makuhari Messe di Chiba.

Il nuovo tester, sviluppato presso il centro R&D Advantest di Santa Clara, è composto dal nuovo mainframe T2000 GS e dal nuovo Modulo Pin Card Digitale 250MDMA, che permette il test in parallelo di circuiti SoC sulla piattaforma di test T2000, rispondente alle specifiche OPENSTAR.

Considerata la più recente soluzione di prodotto nella famiglia di sistemi di test T2000 compatibili OPENSTAR, che include il sistema mainframe T2000 LS annunciato a giugno 2007, la nuova soluzione di test compatta T2000 offre il nuovo progetto mainframe GS insieme al nuovo modulo digitale 250MDMA, che permette il test parallelo di circuiti SoC a numero ridotto di pin.

Maggiori informazioni è possibile ottenerle presso il sito www.advantest.de